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揭秘FPC連接器翻蓋高溫條件下的測(cè)試結(jié)果【宏利】

文章作者:宏利電子 | 發(fā)布時(shí)間:2020-11-20 17:25:29

任何產(chǎn)品想要有穩(wěn)定可靠的品質(zhì),就需要做各種各樣的測(cè)試,那么FPC連接器有哪些測(cè)試,在什么樣條件下測(cè)試是什么樣子的呢,特別是高溫條件下測(cè)試是怎樣的,宏利跟你一起揭秘。

FPC連接器翻蓋高溫測(cè)試一般分3個(gè)部分:

1:在高溫條件下連接器的壽命測(cè)試

2:在高溫條件下連接器的循環(huán)測(cè)試

3:在熱條件下連接器的振動(dòng)測(cè)試。

在高溫條件下連接器的壽命測(cè)試

在溫度條件下的壽命測(cè)試是指在其溫度持續(xù)的升高的條件下,通常是指在電連接器(在正常情況下由所使用的諸如塑料,鍍層及基本金屬等材料確立的)額定溫度條件下進(jìn)行的,用戶可以選擇在連接器的額定溫度條件下進(jìn)行或選擇電連接器在運(yùn)行時(shí)所觀察/預(yù)測(cè)到的周?chē)h(huán)境的溫度中進(jìn)行測(cè)試,

在溫度條件下的壽命測(cè)試主要用來(lái)評(píng)估如下導(dǎo)致機(jī)械性能降格的潛在因素︰

.在干燥條件下的氧化作用機(jī)理。

.金屬化合物內(nèi)部的擴(kuò)散,移動(dòng)和形成。

.考慮接觸保持力及正壓力可能損耗的條件下其外力導(dǎo)致塑料發(fā)生蠕動(dòng)的潛在趨勢(shì)。

.接觸應(yīng)力的松馳,其將導(dǎo)致正壓力的損耗及一定時(shí)間之后其機(jī)能穩(wěn)定性的喪失。

在測(cè)試程序中列出各種不同的測(cè)試溫度,可以分成如下幾類(lèi):

65℃︰設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)的周?chē)h(huán)境溫度。

85℃︰高能量設(shè)備運(yùn)行時(shí)的周?chē)h(huán)境溫度。

105℃︰不可控制的區(qū)域和熱點(diǎn)(錫及其合金溫度測(cè)試的界限)。

125℃︰不可控制的區(qū)域和熱點(diǎn)(鈷金合成物溫度測(cè)試的界限)。

125/200℃︰用于軍事用途及進(jìn)行老化方面的測(cè)試。

熱循環(huán)的測(cè)試

所謂熱循環(huán)測(cè)試是指在連續(xù)的時(shí)間內(nèi)其溫度在兩個(gè)極限點(diǎn)之間不斷發(fā)生變化而進(jìn)行的測(cè)試。如果在潮濕條件下溫度循環(huán)的測(cè)試在其測(cè)試過(guò)程中除掉濕度這一因素,則它們的測(cè)試效果是一樣的。通常這種環(huán)境下的測(cè)試是用來(lái)評(píng)估前面所提及到的那些因素以及在溫度作用下因磨損而導(dǎo)致質(zhì)量降格的情況及連接器系統(tǒng)中因發(fā)生與熱相關(guān)的膨脹而導(dǎo)致其非配合狀況,如果評(píng)估有潛在的腐蝕因素存在,則通常其耐用性測(cè)試的時(shí)間被延長(zhǎng),因?yàn)樵谶@種情況下,能夠加速電連接器氧化進(jìn)程的潮濕這一因素沒(méi)有起作用。正如前述的溫度/濕度條件下的循環(huán)一樣,在這里也要特別注意確立連續(xù)進(jìn)行測(cè)量的次數(shù)。并通過(guò)電連接器所預(yù)計(jì)的運(yùn)行條件來(lái)確立其溫度極限。

在溫度條件下的影響其壽命的同一屬性就其測(cè)試方法來(lái)講一般都很相近,至今仍沒(méi)有對(duì)這種測(cè)試形成一套固定的程序,盡管在同一條件下的溫度/濕度測(cè)試已經(jīng)采用了一定的程序。目前,除了通過(guò)液態(tài)氮來(lái)獲得意外低的溫度不能應(yīng)用在微處理器控制下的標(biāo)準(zhǔn)爐外,在其它場(chǎng)合下該標(biāo)準(zhǔn)爐都已得到采用。

 

熱振動(dòng)的測(cè)試

如果熱循環(huán)測(cè)試不在連續(xù)時(shí)間內(nèi)進(jìn)行,則熱振動(dòng)的測(cè)試同熱循環(huán)測(cè)試效果完全相同。在兩個(gè)溫度極限內(nèi)其轉(zhuǎn)變時(shí)間越快則熱震動(dòng)測(cè)試越受到影響,熱震動(dòng)主要是通過(guò)模擬其貯存,運(yùn)輸及應(yīng)用的極限條件來(lái)確定電連接器在極限溫度內(nèi)不停轉(zhuǎn)換時(shí)對(duì)損壞的忍耐力。這種測(cè)試通常用于研究的目的以及探測(cè)如下方面︰

電連接器受磨損腐蝕的的影響.

SMT焊接點(diǎn)的完整性。

不同材料的特性及接觸用或裝配用的材料之間的重要區(qū)別。

IDC,卷曲及相應(yīng)pin的末端。

這種測(cè)試通常是在由設(shè)定的程序自動(dòng)的將環(huán)境的溫度控制在所期望的溫度水平上及預(yù)計(jì)停留在每個(gè)溫度極限點(diǎn)多長(zhǎng)時(shí)間的條件下進(jìn)行。溫度與時(shí)間之間的關(guān)系圖可以用來(lái)確定DUT在多長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)達(dá)到具體的溫度。那樣的知識(shí)可能允許減少其循環(huán)的時(shí)間。具有冷,熱兩個(gè)系統(tǒng)且能瞬時(shí)發(fā)生冷,熱轉(zhuǎn)變的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)可以進(jìn)行兩分鐘內(nèi)人工改變其溫度高低的測(cè)試。